ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SCALEPACKデータスケーリング AMoRE位相決定 REFMAC5.1.24精密化 HKL-2000データ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.55→34.71 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.966 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.954 / SU B : 1.919 / SU ML : 0.069 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.088 / ESU R Free : 0.087 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20731 2396 9.7 % RANDOM Rwork 0.17815 - - - obs 0.18102 22285 100 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.877 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.58 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.31 Å2 0 Å2 3- - - -0.89 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.55→34.71 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1402 0 30 90 1522
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 25) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.017 0.021 1462 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 1134 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.511 1.955 1980 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.881 3 2683 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.712 5 170 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.122 0.2 184 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.011 0.02 1704 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 282 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.229 0.2 334 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.238 0.2 1227 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.089 0.2 737 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.195 0.2 58 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.171 0.2 6 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.28 0.2 44 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.095 0.2 10 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.903 1.5 854 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.7 2 1326 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.055 3 608 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.872 4.5 654 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.55→1.634 Å / Total num. of bins used : 10 / Rfactor 反射数 Rfree 0.272 333 Rwork 0.236 3182
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.6308 1.2992 -0.036 4.6323 0.0255 3.766 0.0583 0.0244 -0.0652 -0.0526 -0.0353 0.042 0.1496 -0.0273 -0.023 0.0742 -0.0004 -0.0139 0.0463 0.0015 0.0273 20.472 21.732 0.41 2 1.1791 -0.8104 0.0804 7.6005 -0.4523 2.5766 -0.1095 -0.14 -0.0534 0.3344 0.092 0.1938 -0.0757 -0.1571 0.0176 0.1046 0.0092 -0.0006 0.0445 -0.0037 0.043 19.367 21.297 12.972 3 2.7624 -2.5659 0.6876 12.908 -0.3958 2.3423 -0.3955 -0.3109 0.3502 1.1211 0.2708 -0.2288 -0.4045 -0.0869 0.1247 0.2679 0.0384 -0.0463 0.0986 -0.0185 0.0824 24.147 20.65 20.18 4 3.4217 -1.2781 -0.2 4.0909 -0.4454 2.9278 -0.014 -0.1113 -0.0246 -0.0402 0.006 0.1213 -0.0397 -0.0252 0.008 0.09 -0.0209 0.0177 0.0494 0.0041 0.0274 23.749 47.736 46.633 5 3.2708 -1.9548 -0.1274 3.8875 -0.9731 3.5479 0.0488 -0.1084 0.1569 0.2757 -0.1433 -0.0586 -0.1992 -0.0134 0.0946 0.1246 -0.0509 0.0157 0.0936 -0.0137 0.0648 21.371 48.097 58.972 6 8.6059 -3.8248 1.0772 4.241 -0.3439 -0.0248 0.0142 -0.511 -0.208 0.2361 0.0727 0.0654 -0.0867 -0.1118 -0.0869 0.1689 -0.0144 0.0543 0.1545 0.0023 0.0795 16.6 43.937 64.972
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA1 - 34 6 - 39 2 X-RAY DIFFRACTION 2 AA35 - 66 40 - 71 3 X-RAY DIFFRACTION 3 AA67 - 86 72 - 91 4 X-RAY DIFFRACTION 4 BB1 - 34 6 - 39 5 X-RAY DIFFRACTION 5 BB35 - 66 40 - 71 6 X-RAY DIFFRACTION 6 BB67 - 86 72 - 91
精密化 *PLUS
最低解像度 : 34.7 Å / % reflection Rfree : 10 % / Rfactor Rfree : 0.207 / Rfactor Rwork : 0.176 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.017 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.5
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 1.55 Å / 最低解像度 : 1.63 Å / Rfactor Rfree : 0.261 / Rfactor Rwork : 0.226