ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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HKL-2000 | | データ収集 | SCALEPACK | | データスケーリング | SOLVE | | 位相決定 | RESOLVE | | モデル構築 | CNS | 1.1 | 精密化 | HKL-2000 | | データ削減 | RESOLVE | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.26→19.22 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Data cutoff high absF: 1918515.97 / Data cutoff high rms absF: 1918515.97 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.249 | 848 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.229 | - | - | - |
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all | 0.229 | 16789 | - | - |
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obs | 0.229 | 16789 | 99.8 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 49.7807 Å2 / ksol: 0.349385 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 34.2 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 2.1 Å2 | 2.87 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 2.1 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -4.2 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.33 Å | 0.28 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.26 Å | 0.21 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.26→19.22 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2010 | 0 | 0 | 141 | 2151 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.011 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d27.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.13 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.58 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it2.62 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.66 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.93 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.26→2.34 Å / Rfactor Rfree error: 0.035 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.304 | 73 | 4.7 % |
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Rwork | 0.271 | 1473 | - |
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obs | - | 1546 | 52 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER.PARAMWATER.TOP | | | |
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精密化 | *PLUS % reflection Rfree: 10 % / Rfactor obs: 0.229 / Rfactor Rfree: 0.23 / Rfactor Rwork: 0.222 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.032 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.2 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg28.6 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg2.01 | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.304 / Rfactor Rwork: 0.271 |
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