ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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HKL-2000 | データ収集 | SCALEPACK | データスケーリング | CNS | 精密化 | HKL-2000 | データ削減 | CNS | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.2→28.64 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 132634.4 / Data cutoff high rms absF: 132634.4 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.263 | 2132 | 9.9 % | RANDOM |
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Rwork | 0.226 | - | - | - |
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all | 0.226 | 21464 | - | - |
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obs | 0.226 | 21464 | 93 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 59.6341 Å2 / ksol: 0.330675 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 52.4 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -13.83 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -14.94 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 28.78 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.35 Å | 0.3 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.42 Å | 0.52 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.2→28.64 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2187 | 0 | 26 | 171 | 2384 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.04 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg3.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d28.1 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d2.46 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it2.86 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it3.9 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it4.72 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it5.98 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.2→2.34 Å / Rfactor Rfree error: 0.02 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.356 | 323 | 10.8 % |
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Rwork | 0.37 | 2655 | - |
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obs | - | - | 78.8 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | SAH.PARAMSAH.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER.PARAMWATER.TOP | | | | | |
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精密化 | *PLUS % reflection Rfree: 10 % / Rfactor obs: 0.226 / Rfactor Rfree: 0.263 / Rfactor Rwork: 0.225 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.041 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg3.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg27.9 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg2.2 | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.356 / Rfactor Rwork: 0.37 |
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