プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.933 Å / 相対比: 1
反射
*PLUS
最高解像度: 1.5 Å / 最低解像度: 50 Å / Num. obs: 44655 / % possible obs: 98.4 % / Num. measured all: 913258 / Rmerge(I) obs: 0.064
反射 シェル
*PLUS
最高解像度: 1.5 Å / 最低解像度: 1.55 Å / % possible obs: 91.1 % / Rmerge(I) obs: 0.261 / Mean I/σ(I) obs: 2.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
MLPHARE
位相決定
REFMAC
5.1.12
精密化
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換・異常分散 / 解像度: 1.5→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.972 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.971 / SU B: 1.129 / SU ML: 0.042 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.079 / ESU R Free: 0.065 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.17796
2198
5 %
RANDOM
Rwork
0.15361
-
-
-
obs
0.15488
41544
98.23 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 16.559 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
1.01 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
1.01 Å2
0 Å2
3-
-
-
-2.02 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.5→50 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1900
0
25
366
2291
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.018
0.022
1977
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
1878
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.812
1.988
2656
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
2.098
3
4371
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.304
5
249
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.111
0.2
291
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.02
2174
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.003
0.02
385
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.223
0.2
393
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.26
0.2
2103
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.095
0.2
1116
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.152
0.2
162
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.192
0.2
15
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.347
0.2
100
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.143
0.2
45
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.338
1.5
1239
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.913
2
1993
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.639
3
738
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
3.82
4.5
663
X-RAY DIFFRACTION
r_rigid_bond_restr
1.486
2
1977
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_free
5.513
2
366
X-RAY DIFFRACTION
r_sphericity_bonded
2.59
2
1955
LS精密化 シェル
解像度: 1.5→1.54 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.239
132
-
Rwork
0.22
2677
-
obs
-
-
91.1 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 19.9861 Å / Origin y: 21.6216 Å / Origin z: 55.3517 Å