ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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SnB | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | CCP4 | (SCALA)データスケーリング | |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.9→37.76 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 1907292 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.22 | 2706 | 3 % | RANDOM |
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Rwork | 0.183 | - | - | - |
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all | - | 90747 | - | - |
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obs | - | 90377 | 99.4 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 47.7271 Å2 / ksol: 0.341741 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 25.3 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 1.87 Å2 | 0 Å2 | -1.81 Å2 |
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2- | - | -2.04 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.17 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.24 Å | 0.19 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.17 Å | 0.12 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9→37.76 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 7811 | 0 | 78 | 842 | 8731 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.017 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.7 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d24.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.06 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.44 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it2.19 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.3 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.47 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.9→2.02 Å / Rfactor Rfree error: 0.012 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.251 | 422 | 2.8 % |
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Rwork | 0.208 | 14424 | - |
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obs | - | 90377 | 98.5 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | UD1.PARAMUD1.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | | | |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 25 Å / Rfactor Rfree: 0.22 / Rfactor Rwork: 0.183 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg24.3 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.06 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.251 / Rfactor Rwork: 0.208 |
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