ソフトウェア 名称 バージョン 分類 SOLVE位相決定 CNS0.5 精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 解像度 : 2.8→20 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 1263789.02 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 2 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.276 1949 5 % RANDOM Rwork 0.226 - - - obs 0.226 38874 98.4 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 38.26 Å2 / ksol : 0.283 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 59.5 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -10.34 Å2 0 Å2 9.23 Å2 2- - 17.98 Å2 0 Å2 3- - - -7.64 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.45 Å 0.35 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.53 Å 0.45 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6837 0 0 0 6837
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.009 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.8 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.96 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.024 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.397 318 5.2 % Rwork 0.328 5849 - obs - - 94.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 2 / % reflection Rfree : 5 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 59.5 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg22.8 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.96
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.397 / % reflection Rfree : 5.2 % / Rfactor Rwork : 0.328