ソフトウェア 名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : 精密化精密化 解像度 : 2→17.75 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Data cutoff high absF : 1183499.32 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.267 1188 9.8 % RANDOM Rwork 0.226 - - - obs 0.226 12132 92.9 % - all - 13059 - -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 43.76 Å2 / ksol : 0.38 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 20.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.86 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.95 Å2 0 Å2 3- - - -2.82 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.3 Å 0.25 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.17 Å 0.14 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→17.75 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1501 0 0 129 1630
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.61 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.06 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.87 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.22 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it1.92 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2→2.13 Å / Rfactor Rfree error : 0.019 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.273 202 10.3 % Rwork 0.24 1764 - obs - - 92 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 9.8 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 20.9 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg22.3 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.61 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.273 / % reflection Rfree : 10.3 % / Rfactor Rwork : 0.24