ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング SHARP位相決定 CNS0.5 精密化
精密化 解像度 : 2.8→30 Å / Rfactor Rfree error : 0.009 / Data cutoff high absF : 272185.09 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 3 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.298 1204 9.7 % RANDOM Rwork 0.256 - - - obs 0.256 12430 91.3 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 64.06 Å2 / ksol : 0.376 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 51.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -3.87 Å2 0 Å2 5.42 Å2 2- - 9.82 Å2 0 Å2 3- - - -5.95 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.46 Å 0.38 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.43 Å 0.39 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→30 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3245 960 0 39 4244
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.017 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg2.4 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d30.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.81 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
Refine LS restraints NCS NCS model details : CONSTRLS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.98 Å / Rfactor Rfree error : 0.026 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.309 144 8.4 % Rwork 0.307 1578 - obs - - 77.3 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PAPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 DNA-RNA_REP.PA X-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARA
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 3 / % reflection Rfree : 9.7 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 51.1 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg2.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg30.5 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.81
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.309 / % reflection Rfree : 8.4 % / Rfactor Rwork : 0.307