モノクロメーター: GRAPHITE(002) / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→30 Å / Num. obs: 12250 / % possible obs: 98.3 % / Observed criterion σ(I): -2 / 冗長度: 8.4 % / Rsym value: 0.078 / Net I/σ(I): 10.6
反射 シェル
解像度: 2→2.125 Å / 冗長度: 4 % / Mean I/σ(I) obs: 2 / Rsym value: 0.308 / % possible all: 89.7
反射
*PLUS
Num. measured all: 102943 / Rmerge(I) obs: 0.078
反射 シェル
*PLUS
% possible obs: 89.7 % / Rmerge(I) obs: 0.308
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHASES
位相決定
X-PLOR
3.1
モデル構築
XTALVIEW
精密化
X-PLOR
3.1
精密化
X-GEN
(MSI)
データ削減
X-GEN
(MSI)
データスケーリング
X-PLOR
3.1
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 2→10 Å / Data cutoff high absF: 10000000 / Data cutoff low absF: 0.001 / Isotropic thermal model: AS IN X-PLOR 3.1 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.249
-
5 %
RANDOM
Rwork
0.2
-
-
-
obs
0.2
11232
91.3 %
-
原子変位パラメータ
Biso mean: 22.6 Å2
Refine analyze
Luzzati coordinate error obs: 0.3 Å / Luzzati d res low obs: 10 Å