温度: 277 K / 手法: 蒸気拡散法 詳細: protein was concentrated to 10mg/ml. Crystals of complexes were grown using the hanging drop vapour diffusion method from 0.1M HEPES pH7.5, 0.1M MgCl2 and 10% EtOH at 4C
-
データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: APS / ビームライン: 17-ID / 波長: 1 Å
検出器
タイプ: ADSC QUANTUM 210 / 検出器: CCD / 日付: 2010年3月20日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.52→107.67 Å / Num. obs: 52187 / % possible obs: 83.9 % / 冗長度: 7.8 % / Biso Wilson estimate: 18.04 Å2 / Net I/σ(I): 21.9
反射 シェル
解像度: 1.52→1.61 Å / 冗長度: 2.2 % / Rmerge(I) obs: 0.343 / Mean I/σ(I) obs: 1.9 / % possible all: 44
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.9.3
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.52→107.67 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9498 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.9365 / SU R Cruickshank DPI: 0.075 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.08 / SU Rfree Blow DPI: 0.082 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.078
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2093
2648
5.15 %
RANDOM
Rwork
0.1786
-
-
-
obs
0.1801
51447
81.66 %
-
原子変位パラメータ
Biso mean: 25.82 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-0.4616 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.4616 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.9233 Å2
Refine analyze
Luzzati coordinate error obs: 0.185 Å
精密化ステップ
サイクル: 1 / 解像度: 1.52→107.67 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2245
0
32
429
2706
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
数
Restraint function
Weight
X-RAY DIFFRACTION
t_bond_d
0.01
2343
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_angle_deg
1.03
3176
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_dihedral_angle_d
798
SINUSOIDAL
2
X-RAY DIFFRACTION
t_incorr_chiral_ct
X-RAY DIFFRACTION
t_pseud_angle
X-RAY DIFFRACTION
t_trig_c_planes
58
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_gen_planes
351
HARMONIC
5
X-RAY DIFFRACTION
t_it
2343
HARMONIC
20
X-RAY DIFFRACTION
t_nbd
X-RAY DIFFRACTION
t_omega_torsion
3.26
X-RAY DIFFRACTION
t_other_torsion
17.07
X-RAY DIFFRACTION
t_improper_torsion
X-RAY DIFFRACTION
t_chiral_improper_torsion
277
SEMIHARMONIC
5
X-RAY DIFFRACTION
t_sum_occupancies
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_distance
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_angle
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_torsion
X-RAY DIFFRACTION
t_ideal_dist_contact
2987
SEMIHARMONIC
4
LS精密化 シェル
解像度: 1.52→1.56 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.3087
79
5.78 %
Rwork
0.261
1288
-
all
0.2638
1367
-
obs
-
-
81.66 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: -13.6935 Å / Origin y: -37.7992 Å / Origin z: 1.324 Å