モノクロメーター: SI111-DCM WITH SAGITAL BENDER / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.918409 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.38→45.98 Å / Num. obs: 38865 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 6.6 % / Biso Wilson estimate: 25.96 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.16 / Net I/σ(I): 11
反射 シェル
解像度: 2.38→2.44 Å / 冗長度: 6.9 % / Rmerge(I) obs: 0.7 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.377→45.983 Å / SU ML: 0.26 / σ(F): 1.37 / 位相誤差: 20.28 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: THE HYDROGEN ATOMS IN THE STRUCTURE ARE RIDING HYDROGENS AND THEIR POSITIONS WERE NOT REFINE
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2133
1944
5 %
Rwork
0.177
-
-
obs
0.1789
38860
99.96 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL