モノクロメーター: DOUBLE CRYSTAL SI(111) AND SI(113) プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.033184 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→19.98 Å / Num. obs: 157109 / % possible obs: 98 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 6.9 % / Biso Wilson estimate: 22.91 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.1 / Net I/σ(I): 10.91
反射 シェル
解像度: 1.8→1.85 Å / 冗長度: 6.94 % / Rmerge(I) obs: 0.95 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 97.3
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: NONE 解像度: 1.8→19.992 Å / SU ML: 0.17 / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 21.26 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: THE HYDROGEN ATOMS IN THE STRUCTURE ARE RIDING HYDROGENS AND THEIR POSITIONS WERE NOT REFINED
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.1922
7851
5 %
Rwork
0.1568
-
-
obs
0.1585
157061
98.46 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL