タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2013年1月18日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→43.5 Å / Num. obs: 9604 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.081 / Net I/σ(I): 9.5
反射 シェル
解像度: 2→2.11 Å / Rmerge(I) obs: 0.512 / Mean I/σ(I) obs: 2.4 / Num. unique all: 1368 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0071
精密化
SCALA
3.3.21
データスケーリング
PHASER
2.5.6
位相決定
iMOSFLM
データ削減
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.15→39.55 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.948 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.933 / SU B: 16.302 / SU ML: 0.211 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.327 / ESU R Free: 0.214 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23496
764
9.9 %
RANDOM
Rwork
0.20832
-
-
-
obs
0.21102
6975
99.65 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK