ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show PHENIX1.7_650精密化 Show PDB_EXTRACT3.1 データ抽出 Show CrystalClearデータ収集 PHENIX位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.469→23.357 Å / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.1 / FOM work R set : 0.9175 / SU ML : 0.19 / σ(F) : 0 / 位相誤差 : 14.76 / 立体化学のターゲット値 : MLRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.1777 1979 5.01 % Random Rwork 0.1576 - - - obs 0.1586 39492 95.15 % - all - 41491 - -
溶媒の処理 減衰半径 : 0.9 Å / VDWプローブ半径 : 1.11 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol : 37.139 Å2 / ksol : 0.462 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 57 Å2 / Biso mean : 15.8784 Å2 / Biso min : 4.88 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.7824 Å2 -0 Å2 -0.3845 Å2 2- - -0.903 Å2 0 Å2 3- - - 1.6854 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.469→23.357 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2049 0 29 265 2343
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.01 2200 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d1.401 2961 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.09 310 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.008 390 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d13.536 809
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 14
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Num. reflection all % reflection obs (%)1.4695-1.5062 0.3536 135 0.3593 2453 2588 88 1.5062-1.5469 0.2745 139 0.2642 2552 2691 91 1.5469-1.5925 0.2279 122 0.2001 2579 2701 92 1.5925-1.6438 0.1866 141 0.1621 2580 2721 92 1.6438-1.7026 0.1835 137 0.1409 2601 2738 93 1.7026-1.7707 0.144 135 0.1287 2654 2789 94 1.7707-1.8513 0.141 147 0.1254 2678 2825 95 1.8513-1.9488 0.1682 137 0.1368 2675 2812 96 1.9488-2.0709 0.1732 145 0.1487 2710 2855 97 2.0709-2.2306 0.1853 142 0.1423 2741 2883 97 2.2306-2.4549 0.16 141 0.1452 2767 2908 98 2.4549-2.8096 0.1583 149 0.1496 2795 2944 99 2.8096-3.5379 0.1772 149 0.1529 2833 2982 99 3.5379-23.3596 0.18 160 0.1669 2895 3055 100
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 5) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.1253 0.0783 0.0036 0.0692 -0.0293 0.0541 -0.0426 -0.0527 -0.0339 0.0103 -0.0327 -0.0878 0.0777 0.0408 -0.0099 0.0303 0.0038 0.0144 0.0943 -0.0002 0.0744 6.9605 -1.7688 18.5505 2 0.4238 -0.1316 0.1255 0.1281 0.0319 0.3415 -0.0198 -0.0465 0.0243 0.0109 0.0178 0.0501 -0.008 -0.0207 0.0019 0.0798 -0.001 0.0043 0.0675 0.0014 0.0809 -12.868 0.7303 18.0711 3 0.0126 -0.0047 0.0037 0.0198 -0.0277 0.0166 -0.039 0.1705 -0.0361 -0.2701 0.0648 0.2764 0.1039 -0.096 -0 0.1404 -0.0209 -0.0281 0.1294 0.0051 0.1364 -15.8569 -6.2097 0.2861 4 0.4156 -0.0534 0.012 0.2154 -0.1366 0.2002 0.0211 0.0137 -0.0062 -0.0302 -0.0074 0.0065 0.0397 -0.001 0.02 0.0665 -0.0001 -0.0024 0.0623 0.0041 0.061 -9.6926 -4.6865 11.5217 5 0.0303 -0.024 0.0354 0.046 -0.0334 0.0379 -0.0449 -0.2373 0.024 0.0556 0.0723 0.0587 0.084 -0.0437 0.0019 0.1066 -0.0018 0.0136 0.1606 0.0099 0.1011 -9.3477 -3.8323 33.4566
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 chain 'A' and (resseq 4:29)A0 2 X-RAY DIFFRACTION 2 chain 'A' and (resseq 30:154)A0 3 X-RAY DIFFRACTION 3 chain 'A' and (resseq 155:167)A0 4 X-RAY DIFFRACTION 4 chain 'A' and (resseq 168:248)A0 5 X-RAY DIFFRACTION 5 chain 'A' and (resseq 249:261)A0