プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.98 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.2→35 Å / Num. obs: 16363 / % possible obs: 95.7 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 2 % / Biso Wilson estimate: 19.74 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.12 / Net I/σ(I): 7.9
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.8.0
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: OTHER 開始モデル: NONE 解像度: 2→18.4 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9307 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.8841 / SU R Cruickshank DPI: 0.178 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.194 / SU Rfree Blow DPI: 0.169 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.163 詳細: IDEAL-DIST CONTACT TERM CONTACT SETUP. RESIDUE TYPES WITHOUT CCP4 ATOM TYPE IN LIBRARY=ADP MG TAE NO3. NUMBER OF ATOMS WITH PROPER CCP4 ATOM TYPE=1790. NUMBER WITH APPR DEFAULT CCP4 ATOM ...詳細: IDEAL-DIST CONTACT TERM CONTACT SETUP. RESIDUE TYPES WITHOUT CCP4 ATOM TYPE IN LIBRARY=ADP MG TAE NO3. NUMBER OF ATOMS WITH PROPER CCP4 ATOM TYPE=1790. NUMBER WITH APPR DEFAULT CCP4 ATOM TYPE=52. NUMBER TREATED BY BAD NON-BONDED CONTACTS=1.