由来: シンクロトロン / サイト: ALS / ビームライン: 4.2.2 / 波長: 1.00003 Å
検出器
タイプ: NOIR-1 / 検出器: CCD / 日付: 2015年1月30日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.00003 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→51.49 Å / Num. obs: 10615 / % possible obs: 94 % / 冗長度: 10.8 % / Biso Wilson estimate: 25.18 Å2 / Rrim(I) all: 0.2348 / Net I/σ(I): 3.28
反射 シェル
解像度: 2.1→51.49 Å / Num. unique obs: 1041 / Rrim(I) all: 0.2348 / % possible all: 94.13
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0258
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: AB INITIO PHASING / 解像度: 2.1→51.49 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.924 / SU B: 6.369 / SU ML: 0.16 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.251 / ESU R Free: 0.196 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23437
592
5.3 %
RANDOM
Rwork
0.19211
-
-
-
obs
0.19444
10615
94.2 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.9 Å / 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK