モノクロメーター: Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9763 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.42→33.49 Å / Num. obs: 20446 / % possible obs: 93.1 % / 冗長度: 6.5 % / Biso Wilson estimate: 23.149 Å2 / CC1/2: 1 / Net I/σ(I): 17.49
反射 シェル
解像度: 1.42→1.46 Å / 冗長度: 6.8 % / Mean I/σ(I) obs: 1.99 / Num. unique obs: 1472 / CC1/2: 0.703 / % possible all: 92.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0238
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.42→33.49 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.972 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.96 / SU B: 1.34 / SU ML: 0.051 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.071 / ESU R Free: 0.075 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS