プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97922 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.12→50 Å / Num. obs: 190708 / % possible obs: 97.9 % / 冗長度: 12.5 % / Biso Wilson estimate: 9.37 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.071 / Net I/σ(I): 49.7
反射 シェル
解像度: 1.12→1.14 Å / Rmerge(I) obs: 0.56 / Mean I/σ(I) obs: 2.3 / Num. unique obs: 7808
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
1.13_2998
精密化
SCALEPACK
データスケーリング
PDB_EXTRACT
3.25
データ抽出
HKL-2000
データ削減
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: A model solved by Se-Met labelled sample 解像度: 1.12→23.847 Å / SU ML: 0.09 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.36 / 位相誤差: 16.25 / 立体化学のターゲット値: ML
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.1784
9297
4.88 %
Rwork
0.1747
181347
-
obs
0.1749
190644
97.9 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL