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-基本情報
登録情報 | データベース: PDB / ID: 6aqk | ||||||
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タイトル | Crystal structure of the C-terminal toxin domain of RHS2 from Yersinia entomophaga | ||||||
要素 | Toxin protein | ||||||
キーワード | TOXIN / ADP-ribosylation / ADP-ribosyltransferase | ||||||
機能・相同性 | Toxin complex C-like repeat / Tripartite Tc toxins repeat / Rhs repeat-associated core / : / metal ion binding / BROMIDE ION / : / RHS2 機能・相同性情報 | ||||||
生物種 | Yersinia entomophaga (バクテリア) | ||||||
手法 | X線回折 / シンクロトロン / 単波長異常分散 / 解像度: 1.8 Å | ||||||
データ登録者 | Busby, J.N. / Hurst, M.R.H. / Lott, J.S. | ||||||
資金援助 | ニュージーランド, 1件
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引用 | ジャーナル: To be published タイトル: Crystal structure of the C-terminal toxin domain of RHS2 from Yersinia entomophaga 著者: Busby, J.N. / Hurst, M.R.H. / Lott, J.S. | ||||||
履歴 |
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-構造の表示
構造ビューア | 分子: MolmilJmol/JSmol |
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-ダウンロードとリンク
-ダウンロード
PDBx/mmCIF形式 | 6aqk.cif.gz | 60.1 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
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PDB形式 | pdb6aqk.ent.gz | 41.9 KB | 表示 | PDB形式 |
PDBx/mmJSON形式 | 6aqk.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
文書・要旨 | 6aqk_validation.pdf.gz | 416.9 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
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文書・詳細版 | 6aqk_full_validation.pdf.gz | 416.9 KB | 表示 | |
XML形式データ | 6aqk_validation.xml.gz | 10.6 KB | 表示 | |
CIF形式データ | 6aqk_validation.cif.gz | 14.5 KB | 表示 | |
アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/aq/6aqk ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/aq/6aqk | HTTPS FTP |
-関連構造データ
関連構造データ | |
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類似構造データ |
-リンク
-集合体
登録構造単位 |
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1 |
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単位格子 |
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-要素
#1: タンパク質 | 分子量: 26063.283 Da / 分子数: 1 / 断片: UNP residues 738-963 / 由来タイプ: 組換発現 由来: (組換発現) Yersinia entomophaga (バクテリア) 遺伝子: RHS2 / プラスミド: pDEST17 / 発現宿主: Escherichia coli (大腸菌) / 株 (発現宿主): LOBSTR(DE3) / 参照: UniProt: A0A2D0TC51*PLUS | ||||||||
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#2: 化合物 | ChemComp-PT / #3: 化合物 | ChemComp-CL / #4: 化合物 | ChemComp-BR / | #5: 水 | ChemComp-HOH / | 配列の詳細 | First 4 N-terminal residues GSGA are from a purification tag | |
-実験情報
-実験
実験 | 手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1 |
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-試料調製
結晶 | マシュー密度: 1.98 Å3/Da / 溶媒含有率: 37.81 % / 解説: plate |
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結晶化 | 温度: 291 K / 手法: 蒸気拡散法 / pH: 7.5 / 詳細: 29% PEG 2000 MME, 0.15 M KBr |
-データ収集
回折 | 平均測定温度: 100 K | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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放射光源 | 由来: シンクロトロン / サイト: Australian Synchrotron / ビームライン: MX2 / 波長: 1.07219 Å | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
検出器 | タイプ: DECTRIS EIGER X 16M / 検出器: PIXEL / 日付: 2017年8月15日 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
放射 | モノクロメーター: Silicon Double Crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
放射波長 | 波長: 1.07219 Å / 相対比: 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
反射 | 解像度: 1.8→50.41 Å / Num. obs: 18821 / % possible obs: 99.8 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 13.523 % / Biso Wilson estimate: 42.029 Å2 / CC1/2: 0.999 / Rmerge(I) obs: 0.107 / Rrim(I) all: 0.111 / Χ2: 1.091 / Net I/σ(I): 11.92 / Num. measured all: 499693 / Scaling rejects: 398 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
反射 シェル | Diffraction-ID: 1
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-位相決定
位相決定 | 手法: 単波長異常分散 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Phasing dm | 手法: Solvent flattening and Histogram matching / 反射: 15837 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Phasing dm shell |
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-解析
ソフトウェア |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.8→50.41 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.96 / WRfactor Rfree: 0.233 / WRfactor Rwork: 0.181 / FOM work R set: 0.8024 / SU B: 3.682 / SU ML: 0.108 / SU R Cruickshank DPI: 0.1308 / SU Rfree: 0.1281 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.131 / ESU R Free: 0.128 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
原子変位パラメータ | Biso max: 180.4 Å2 / Biso mean: 38.567 Å2 / Biso min: 24.51 Å2
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精密化ステップ | サイクル: final / 解像度: 1.8→50.41 Å
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拘束条件 |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.8→1.847 Å / Rfactor Rfree error: 0 / Total num. of bins used: 20
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