プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.9→25 Å / Num. obs: 12274 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 9.6 % / Rmerge(I) obs: 0.127 / Rpim(I) all: 0.041 / Net I/σ(I): 16.8
反射 シェル
解像度: 2.9→2.95 Å / 冗長度: 9.2 % / Rmerge(I) obs: 0.828 / Mean I/σ(I) obs: 2.4 / Rpim(I) all: 0.276 / % possible all: 99.8
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
1.11.1_2575
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
SHELX
位相決定
PDB_EXTRACT
3.24
データ抽出
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.901→24.884 Å / SU ML: 0.46 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.36 / 位相誤差: 29.19 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: Anomalous signal for residue 0 MET was very weak, and could not be identified as MSE.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2862
559
4.87 %
Rwork
0.2559
10926
-
obs
0.2574
11485
93.26 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL