ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.10.1_2155: ???)精密化 | HKL-2000 | | データ削減 | HKL-2000 | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 5JPH 解像度: 2.6→30.046 Å / SU ML: 0.3 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.33 / 位相誤差: 29.86 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.3036 | 582 | 5.03 % |
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Rwork | 0.2777 | - | - |
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obs | 0.2791 | 11567 | 93.94 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.6→30.046 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2350 | 0 | 0 | 43 | 2393 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.006 | 2410 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.062 | 3270 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d21.813 | 1425 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.051 | 359 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.005 | 424 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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2.6001-2.8616 | 0.3552 | 132 | 0.3108 | 2712 | X-RAY DIFFRACTION | 94 | 2.8616-3.2752 | 0.3373 | 152 | 0.3102 | 2760 | X-RAY DIFFRACTION | 95 | 3.2752-4.1247 | 0.3817 | 136 | 0.3032 | 2517 | X-RAY DIFFRACTION | 86 | 4.1247-30.048 | 0.2089 | 162 | 0.231 | 2996 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: -3.6384 Å / Origin y: 3.4762 Å / Origin z: 176.1152 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.1973 Å2 | -0.0245 Å2 | 0.0251 Å2 | - | 0.1153 Å2 | -0.0199 Å2 | - | - | 0.1527 Å2 |
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L | 1.121 °2 | -0.0946 °2 | 0.2184 °2 | - | 1.3112 °2 | -0.2678 °2 | - | - | 2.4852 °2 |
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S | -0.0698 Å ° | -0.0332 Å ° | 0.126 Å ° | 0.248 Å ° | -0.1228 Å ° | 0.0272 Å ° | 0.2364 Å ° | 0.1141 Å ° | 0.17 Å ° |
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精密化 TLSグループ | Selection details: all |
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