プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.25→89.38 Å / Num. obs: 136595 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 14.3 % / Net I/σ(I): 28.01
反射 シェル
解像度: 1.25→1.32 Å
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.25→45.16 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.98 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.978 / SU B: 0.752 / SU ML: 0.015 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.026 / ESU R Free: 0.026 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.12508
6829
5 %
RANDOM
Rwork
0.11135
-
-
-
obs
0.11205
129766
99.9 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK