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基本情報
| 登録情報 | データベース: PDB / ID: 5wsp | |||||||||||||||||||||||||||||||
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| タイトル | Crystal structure of DNA3 duplex | |||||||||||||||||||||||||||||||
要素 | DNA (5'-D(* キーワードDNA / DNA duplex / T:T pair | 機能・相同性 | STRONTIUM ION / DNA | 機能・相同性情報生物種 | unidentified (未定義) | 手法 | X線回折 / シンクロトロン / 分子置換 / 解像度: 1.502 Å データ登録者Gan, J.H. / Liu, H.H. | 資金援助 | | 中国, 2件
引用 ジャーナル: Nucleic Acids Res. / 年: 2017タイトル: Flexibility and stabilization of HgII-mediated C:T and T:T base pairs in DNA duplex 著者: Liu, H.H. / Cai, C. / Haruehanroengra, P. / Yao, Q.Q. / Chen, Y.Q. / Yang, C. / Luo, Q. / Wu, B.X. / Li, J.X. / Ma, J.B. / Sheng, J. / Gan, J.H. 履歴 |
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構造の表示
| 構造ビューア | 分子: Molmil Jmol/JSmol |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
| PDBx/mmCIF形式 | 5wsp.cif.gz | 16.4 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
|---|---|---|---|---|
| PDB形式 | pdb5wsp.ent.gz | 9 KB | 表示 | PDB形式 |
| PDBx/mmJSON形式 | 5wsp.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
| その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
| 文書・要旨 | 5wsp_validation.pdf.gz | 367.5 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
|---|---|---|---|---|
| 文書・詳細版 | 5wsp_full_validation.pdf.gz | 367.5 KB | 表示 | |
| XML形式データ | 5wsp_validation.xml.gz | 2.9 KB | 表示 | |
| CIF形式データ | 5wsp_validation.cif.gz | 3.7 KB | 表示 | |
| アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/ws/5wsp ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/ws/5wsp | HTTPS FTP |
-関連構造データ
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リンク
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集合体
| 登録構造単位 | ![]()
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| 1 | ![]()
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| 単位格子 |
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要素
| #1: DNA鎖 | 分子量: 2418.591 Da / 分子数: 1 / 由来タイプ: 合成 / 由来: (合成) unidentified (未定義) |
|---|---|
| #2: 化合物 | ChemComp-SR / |
| #3: 水 | ChemComp-HOH / |
-実験情報
-実験
| 実験 | 手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1 |
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試料調製
| 結晶 | マシュー密度: 2.34 Å3/Da / 溶媒含有率: 47.53 % |
|---|---|
| 結晶化 | 温度: 277 K / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法 / 詳細: 10% v/v MPD |
-データ収集
| 回折 | 平均測定温度: 100 K |
|---|---|
| 放射光源 | 由来: シンクロトロン / サイト: SSRF / ビームライン: BL19U1 / 波長: 0.97925 Å |
| 検出器 | タイプ: DECTRIS PILATUS3 S 6M / 検出器: PIXEL / 日付: 2016年12月6日 |
| 放射 | プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray |
| 放射波長 | 波長: 0.97925 Å / 相対比: 1 |
| 反射 | 解像度: 1.5→30 Å / Num. obs: 3977 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 22.5 % / Net I/σ(I): 37.2 |
| 反射 シェル | 解像度: 1.5→1.55 Å / 冗長度: 19.5 % / Rmerge(I) obs: 0.495 / Mean I/σ(I) obs: 2.6 / CC1/2: 0.891 / % possible all: 100 |
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解析
| ソフトウェア |
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| 精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.502→21.638 Å / SU ML: 0.17 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.36 / 位相誤差: 15.78
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| 溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å | ||||||||||||||||||||||||
| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.502→21.638 Å
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| 拘束条件 |
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| LS精密化 シェル |
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ムービー
コントローラー
万見について




X線回折
中国, 2件
引用













PDBj






