プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9801 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→45.43 Å / Num. obs: 36891 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 5.9 % / Biso Wilson estimate: 48.09 Å2 / CC1/2: 0.998 / Rmerge(I) obs: 0.052 / Net I/σ(I): 17
反射 シェル
解像度: 2→2.05 Å / 冗長度: 4.9 % / Rmerge(I) obs: 0.84 / Mean I/σ(I) obs: 2 / CC1/2: 0.668 / % possible all: 97.6
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.10.2
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Partially refined model from SeMet MAD phasing on a nonisomorphous crystal 解像度: 2→28.09 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9511 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.9444 / SU R Cruickshank DPI: 0.179 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.179 / SU Rfree Blow DPI: 0.153 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.154