プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.5→19.91 Å / Num. obs: 17182 / % possible obs: 96.7 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 6.8 % / Net I/σ(I): 9.6
反射 シェル
解像度: 2.5→2.64 Å / % possible all: 99.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
MOLREP
位相決定
REFMAC
5.6.0117
精密化
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.5→19.91 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.942 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.863 / SU B: 12.227 / SU ML: 0.264 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 1.38 / ESU R Free: 0.351 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.28
471
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.192
-
-
-
obs
0.196
9431
99.7 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK