プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.18→28.1 Å / Num. obs: 34518 / % possible obs: 87.4 % / 冗長度: 2.48 % / Rmerge(I) obs: 0.043 / Net I/σ(I): 9.3
反射 シェル
解像度: 1.18→1.22 Å / Rmerge(I) obs: 0.176
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.185→28.1 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.957 / SU B: 1.003 / SU ML: 0.021 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.037 / ESU R Free: 0.039 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.16783
1674
5 %
RANDOM
Rwork
0.13101
-
-
-
obs
0.13286
31884
85.08 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK