ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.3 精密化 PHENIX位相決定 Cootモデル構築 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 3.26→46.96 Å / Rfactor Rfree error : 0.004 / Data cutoff high absF : 160159.34 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.239 3509 8.6 % RANDOM Rwork 0.225 - - - obs 0.225 40712 86.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 85.1672 Å2 / ksol : 0.32 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 121.4 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 7.07 Å2 -0 Å2 0 Å2 2- - 7.07 Å2 0 Å2 3- - - -14.14 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.47 Å 0.41 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.66 Å 0.71 Å
精密化ステップ サイクル : 1 / 解像度 : 3.26→46.96 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 0 0 0 0
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.011 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.6 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.1 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.65 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 3.25→3.45 Å / Rfactor Rfree error : 0.107 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.356 11 0.2 % Rwork 0.361 5826 - obs - - 75.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 CNS_TOPPAR/protein_rep.paramCNS_TOPPAR/protein.topX-RAY DIFFRACTION 2 CNS_TOPPAR/dna-rna_rep.param CNS_TOPPAR/dna-rna.top X-RAY DIFFRACTION 3 CNS_TOPPAR/water_rep.paramCNS_TOPPAR/water.topX-RAY DIFFRACTION 4 CNS_TOPPAR/ion.paramCNS_TOPPAR/ion.topX-RAY DIFFRACTION 5 CNS_TOPPAR/carbohydrate.paramCNS_TOPPAR/carbohydrate.top