プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.5→50 Å / Num. obs: 19578 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 20 % / Net I/σ(I): 18.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(phenix.refine: 1.9_1692)
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.5→36.17 Å / SU ML: 0.25 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.34 / 位相誤差: 28.65 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: THE STRUCTURE FACTOR FILE CONTAINS FRIEDEL PAIRS IN I_PLUS/MINUS AND F_PLUS/MINUS COLUMNS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2734
922
4.83 %
Random
Rwork
0.2177
-
-
-
obs
0.2203
19090
99.97 %
-
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL