プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.99986 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.7→50 Å / Num. obs: 30657 / % possible obs: 99.7 % / Observed criterion σ(I): 1.51 / 冗長度: 9.9 % / Biso Wilson estimate: 18.91 Å2 / CC1/2: 0.998 / Rmerge(I) obs: 0.16 / Net I/σ(I): 13.31
反射 シェル
解像度: 1.7→1.74 Å / 冗長度: 10.1 % / Rmerge(I) obs: 1.867 / Mean I/σ(I) obs: 1.51 / CC1/2: 0.64 / % possible all: 97.6
-
解析
ソフトウェア
名称: PHENIX / バージョン: (PHENIX.REFINE) / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.699→34.215 Å / SU ML: 0.17 / σ(F): 1.36 / 位相誤差: 19.38 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: THE OCCUPANCY OF SIDE CHAIN ATOMS, FOR WHICH ELECTRON DENSITY WAS POOR, IS SET TO 0.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.1945
2384
7.8 %
Rwork
0.1663
-
-
obs
0.1685
30656
99.6 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL