プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.007 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.1→50 Å / Num. obs: 11759 / % possible obs: 98.07 % / 冗長度: 3.4 % / Net I/σ(I): 28
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0107
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 3.4→25 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.881 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.846 / SU B: 144.519 / SU ML: 1.032 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.826 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.33338
204
4.5 %
RANDOM
Rwork
0.32458
-
-
-
obs
0.32502
4328
98.07 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK