プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→91.27 Å / Num. obs: 422607 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 3.7 % / Rmerge(I) obs: 0.039 / Net I/σ(I): 24.8
反射 シェル
解像度: 1.9→2 Å / Rmerge(I) obs: 0.269 / Mean I/σ(I) obs: 5 / % possible all: 95.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
Blu-Ice
データ収集
精密化
解像度: 1.9→37.53 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.936 / SU B: 3.992 / SU ML: 0.115 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.157 / ESU R Free: 0.146 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22847
3382
3 %
RANDOM
Rwork
0.18324
-
-
-
obs
0.18459
109431
99.64 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK