プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.29→20 Å / Num. obs: 55080 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 14.2 % / Net I/σ(I): 17.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0107
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 2.4→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.949 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.943 / SU B: 15.336 / SU ML: 0.182 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.484 / ESU R Free: 0.249 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23123
2430
5 %
RANDOM
Rwork
0.2137
-
-
-
obs
0.2146
45744
99.55 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK