モノクロメーター: Cu filter / プロトコル: LAUE / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5415 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.93→50 Å / Num. obs: 57886 / % possible obs: 99.2 % / 冗長度: 4.9 % / Net I/σ(I): 14.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-3000
データ収集
HKL-3000
データ抽出
HKL-3000
dataprocessing
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
PHASER
位相決定
REFMAC
5.8.0049
精密化
REFMAC
5.8.0049
精密化
精密化
解像度: 2.93→47.41 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.914 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.848 / SU B: 18.05 / SU ML: 0.342 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.456 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.27261
2899
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.20517
-
-
-
obs
0.20863
54197
98.6 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK