プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.46→23 Å / Num. obs: 41563 / % possible obs: 99.3 % / 冗長度: 5.5 % / Rmerge(I) obs: 0.043 / Χ2: 0.655 / Net I/av σ(I): 33.475 / Net I/σ(I): 39.2 / Num. measured all: 229537
反射 シェル
Diffraction-ID: 1 / Rejects: _
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
% possible all
1.46-1.49
4
0.291
1264
0.802
95.97
1.49-1.51
5.3
0.259
2080
0.607
99.4
1.51-1.54
5.5
0.214
2083
0.56
100
1.54-1.57
5.5
0.185
2077
0.518
99.8
1.57-1.61
5.5
0.16
2105
0.488
99.8
1.61-1.64
5.5
0.139
2086
0.481
100
1.64-1.69
5.5
0.118
2095
0.508
99.9
1.69-1.73
5.5
0.109
2086
0.542
100
1.73-1.78
5.6
0.094
2104
0.511
99.9
1.78-1.84
5.6
0.08
2103
0.526
100
1.84-1.91
5.6
0.068
2090
0.557
100
1.91-1.98
5.6
0.058
2117
0.608
100
1.98-2.07
5.7
0.047
2093
0.609
100
2.07-2.18
5.7
0.042
2123
0.639
100
2.18-2.32
5.7
0.038
2130
0.68
100
2.32-2.5
5.7
0.036
2140
0.708
100
2.5-2.75
5.7
0.033
2141
0.731
100
2.75-3.14
5.7
0.031
2145
0.847
100
3.14-3.96
5.6
0.028
2195
1.031
100
3.96-23
5.3
0.031
2306
1.171
100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ削減
REFMAC
5.8.0069
精密化
PDB_EXTRACT
3.14
データ抽出
HKL-2000
データスケーリング
精密化
解像度: 1.466→23 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.961 / WRfactor Rfree: 0.1694 / WRfactor Rwork: 0.1445 / FOM work R set: 0.9053 / SU B: 0.862 / SU ML: 0.034 / SU R Cruickshank DPI: 0.0583 / SU Rfree: 0.0594 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.058 / ESU R Free: 0.059 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1715
2090
5 %
RANDOM
Rwork
0.1492
39382
-
-
obs
0.1503
41472
99.27 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK