プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.92 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→56.88 Å / Num. obs: 38092 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 12.3 % / Net I/σ(I): 23.9
反射 シェル
解像度: 1.55→1.58 Å / 冗長度: 12.9 % / Mean I/σ(I) obs: 1.9 / % possible all: 99.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0049
精密化
Coot
0.7.1
モデル構築
精密化
解像度: 1.55→56.88 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.943 / SU B: 1.567 / SU ML: 0.056 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.074 / ESU R Free: 0.081 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21649
2007
5 %
RANDOM
Rwork
0.17331
-
-
-
obs
0.17546
38092
99.87 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK