モノクロメーター: Si(111) double crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97931 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.85→50 Å / Num. obs: 62685 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 7.7 % / Rmerge(I) obs: 0.188 / Net I/av σ(I): 16 / Net I/σ(I): 5.4
反射 シェル
解像度: 1.85→1.87 Å / 冗長度: 7.7 % / Rmerge(I) obs: 0.956 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
REFMAC
5.6.0117
精密化
PDB_EXTRACT
3.14
データ抽出
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.85→35.08 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.94 / SU B: 5.23 / SU ML: 0.071 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.258 / ESU R Free: 0.116 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : RESIDUAL ONLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1967
3162
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1517
59192
-
-
obs
0.154
62354
99.09 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK