由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2012年11月27日 / 詳細: Mirrors
放射
モノクロメーター: OSMIC MIRROR / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 4.4 % / Av σ(I) over netI: 16.1 / 数: 61712 / Rsym value: 0.045 / D res high: 1.89 Å / D res low: 77.265 Å / Num. obs: 13902 / % possible obs: 99.1
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Rsym value
Redundancy
2.2
2.32
98
1
0.17
0.17
4.4
2.32
2.46
98.4
1
0.137
0.137
4.4
2.46
2.63
98.8
1
0.111
0.111
4.5
2.63
2.84
99.2
1
0.079
0.079
4.5
2.84
3.11
99.4
1
0.053
0.053
4.5
3.11
3.48
99.5
1
0.036
0.036
4.5
3.48
4.02
99.8
1
0.026
0.026
4.5
4.02
4.92
99.9
1
0.024
0.024
4.4
4.92
6.96
100
1
0.026
0.026
4.4
6.96
55.04
99.8
1
0.017
0.017
4
反射
解像度: 2.2→55.04 Å / Num. obs: 13902 / % possible obs: 99.1 % / 冗長度: 4.4 % / Biso Wilson estimate: 24.6 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.045 / Net I/σ(I): 25
反射 シェル
解像度: 2.2→2.32 Å / 冗長度: 4.4 % / Rmerge(I) obs: 0.17 / Mean I/σ(I) obs: 9 / Num. unique all: 8512 / % possible all: 98
解像度: 2.2→55.04 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.94 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.91 / WRfactor Rfree: 0.2189 / WRfactor Rwork: 0.1726 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8541 / SU B: 5.154 / SU ML: 0.134 / SU R Cruickshank DPI: 0.2687 / SU Rfree: 0.2109 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.269 / ESU R Free: 0.211 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES: REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2399
724
5.2 %
RANDOM
Rwork
0.1904
-
-
-
obs
0.193
13895
98.81 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK