ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SOLVE位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.55→47.66 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.969 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.968 / SU B : 2.865 / SU ML : 0.046 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.091 / ESU R Free : 0.069 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.17799 3797 5 % RANDOM Rwork 0.16027 - - - obs 0.16116 71829 99.71 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 27.162 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.14 Å2 0.14 Å2 -0 Å2 2- - 0.14 Å2 -0 Å2 3- - - -0.46 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.55→47.66 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3810 0 30 333 4173
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.019 4057 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 3717 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.269 1.915 5536 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.757 3 8525 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.411 5 488 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg39.907 24.5 240 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.368 15 680 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.427 15 25 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.085 0.2 609 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 4683 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 1078 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.447 1.412 1852 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other1.447 1.411 1851 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.822 2.117 2318 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.821 1.757 2205 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr2.357 3 7774 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free27.46 5 117 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded6.919 5 7874
LS精密化 シェル 解像度 : 1.551→1.591 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.249 258 - Rwork 0.217 5202 - obs - - 97.47 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.3342 -0.0379 -0.3789 1.8516 -0.2871 0.9031 0.0023 -0.0107 0.0234 0.0081 -0.0049 0.0241 0.0257 0.0028 0.0026 0.0474 -0.0261 0.0304 0.0513 -0.008 0.1061 96.945 41.72 40.474 2 1.6512 -0.1138 0.1479 1.9661 0.5103 0.6964 -0.1536 0.076 -0.1472 -0.0393 0.0903 0.1361 -0.0063 0.0095 0.0633 0.0611 -0.0225 0.0682 0.0612 -0.0308 0.1587 97.599 20.896 32.302 3 1.652 -0.5544 0.364 1.139 -0.1544 1.209 -0.0593 -0.0243 -0.0747 -0.0061 0.0452 0.0817 -0.0267 0.0323 0.0141 0.0443 0.0019 0.0279 0.0402 0.03 0.1173 60.6 23.84 8.283 4 2.3746 0.1668 -0.7652 2.2052 0.3861 1.1104 -0.0738 0.0774 -0.1108 -0.1897 0.0443 -0.0138 -0.0015 0.0049 0.0295 0.0647 -0.0027 0.0419 0.0521 0.0393 0.1193 78.839 13.133 0.343
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A12 - 125 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B13 - 128 3 X-RAY DIFFRACTION 3 C13 - 121 4 X-RAY DIFFRACTION 4 D12 - 126