モノクロメーター: Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.99987 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.2→49.14 Å / Num. obs: 70219
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
MxCuBE
データ収集
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.2→49.14 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.941 / WRfactor Rfree: 0.1982 / WRfactor Rwork: 0.1593 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8613 / SU B: 11.067 / SU ML: 0.134 / SU R Cruickshank DPI: 0.2502 / SU Rfree: 0.1918 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.25 / ESU R Free: 0.192 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2153
3511
5 %
RANDOM
Rwork
0.1702
-
-
-
obs
0.1725
70219
99.91 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK