モノクロメーター: NONE / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 2.2909 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.42→25.7 Å / Num. obs: 5343 / % possible obs: 91 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 3.8 % / Biso Wilson estimate: 21.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.079 / Net I/σ(I): 15.36
反射 シェル
解像度: 2.42→2.57 Å / Rmerge(I) obs: 0.095 / Mean I/σ(I) obs: 11.15 / % possible all: 80.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
StructureStudio
データ収集
PHENIX
AUTOSOL
モデル構築
REFMAC
5.7.0032
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
PHENIX
AUTOSOL
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.42→25.7 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.964 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.883 / SU B: 9.549 / SU ML: 0.214 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.322 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.234
120
4.4 %
RANDOM
Rwork
0.144
-
-
-
obs
0.149
2605
89.5 %
-
all
-
2999
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK