プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.48 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→50 Å / Num. obs: 25076 / % possible obs: 98.4 % / 冗長度: 14.2 % / Rmerge(I) obs: 0.126 / Χ2: 1.759 / Net I/σ(I): 9.1
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.9-1.93
14.1
0.792
1207
1.041
1
97
1.93-1.97
14.1
0.707
1219
1.1
1
96.8
1.97-2.01
14.3
0.595
1195
1.154
1
96.8
2.01-2.05
14.3
0.486
1221
1.203
1
97.5
2.05-2.09
14.4
0.414
1222
1.286
1
96.9
2.09-2.14
14.5
0.375
1237
1.263
1
97.6
2.14-2.19
14.4
0.308
1218
1.362
1
98.4
2.19-2.25
14.5
0.29
1220
1.385
1
97.5
2.25-2.32
14.5
0.252
1228
1.479
1
97.6
2.32-2.39
14.5
0.218
1261
1.401
1
98.1
2.39-2.48
14.5
0.203
1233
1.438
1
98.8
2.48-2.58
14.5
0.184
1257
1.5
1
98.7
2.58-2.7
14.5
0.148
1241
1.656
1
98.6
2.7-2.84
14.5
0.124
1266
1.784
1
99.3
2.84-3.02
14.4
0.097
1263
1.913
1
99.4
3.02-3.25
14.4
0.075
1283
2.174
1
99.3
3.25-3.58
14.1
0.066
1288
2.517
1
99.8
3.58-4.09
13.8
0.057
1295
2.821
1
99.7
4.09-5.16
13.8
0.049
1313
3.077
1
99.9
5.16-50
12.9
0.053
1409
3.468
1
99.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SHELXS
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.9→49.12 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.956 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.929 / WRfactor Rfree: 0.2065 / WRfactor Rwork: 0.1664 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 1 / FOM work R set: 0.8748 / SU B: 2.655 / SU ML: 0.08 / SU R Cruickshank DPI: 0.1414 / SU Rfree: 0.1354 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.141 / ESU R Free: 0.135 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2162
1266
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1722
-
-
-
obs
0.1745
25035
98.25 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK