ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 246D解像度 : 2.23→30.93 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.981 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.958 / SU B : 22.87 / SU ML : 0.222 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.051 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22898 73 4.2 % RANDOM Rwork 0.1525 - - - obs 0.15648 1650 91.02 % - all - 1893 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 32.957 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -7.33 Å2 -0 Å2 -0 Å2 2- - -7.33 Å2 -0 Å2 3- - - 14.67 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.23→30.93 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 334 5 0 339
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.009 0.011 372 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.093 1.452 576 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.111 0.2 64 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.012 0.02 164 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr6.192 3 372 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free68.134 5 3 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded41.32 5 336
LS精密化 シェル 解像度 : 2.23→2.288 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.561 5 - Rwork 0.34 112 - obs - - 90.7 %