プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.95 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.59→47.733 Å / Num. all: 88992 / Num. obs: 88514 / % possible obs: 99.5 % / Observed criterion σ(I): -3 / Biso Wilson estimate: 36.489 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.113 / Net I/σ(I): 12.2
反射 シェル
Diffraction-ID: 1
解像度 (Å)
最高解像度 (Å)
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
Num. measured obs
Num. unique obs
% possible all
2.59-2.74
0.631
2.32
55676
14062
98.5
2.74-2.93
0.405
3.62
53278
13296
99.8
2.93-3.17
0.237
6.02
49885
12461
99.8
3.17-3.47
0.133
10.35
45881
11467
99.8
3.47-3.88
0.087
15.3
41752
10456
99.8
3.88-4.47
0.057
21.78
36747
9239
99.8
4.47-5.46
0.049
24.52
30932
7821
99.7
5.46-7.68
0.058
20.84
24080
6149
99.6
7.68
0.028
34.94
13181
3563
97.8
-
位相決定
位相決定
手法: 分子置換
Phasing MR
Model details: Phaser MODE: MR_AUTO
最高解像度
最低解像度
Rotation
2.54 Å
47.73 Å
Translation
2.54 Å
47.73 Å
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
データスケーリング
PHASER
2.3.0
位相決定
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.59→47.73 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.913 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.906 / WRfactor Rfree: 0.2052 / WRfactor Rwork: 0.1933 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.49 / FOM work R set: 0.8668 / SU B: 13.772 / SU ML: 0.149 / SU R Cruickshank DPI: 0.3047 / SU Rfree: 0.2243 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.305 / ESU R Free: 0.224 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : WITH TLS ADDED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2347
4426
5 %
RANDOM
Rwork
0.2196
-
-
-
obs
0.2204
88514
99.61 %
-
all
-
88992
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK