構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.7→35.43 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.93 / SU B: 4.229 / SU ML: 0.069 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.106 / ESU R Free: 0.107 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22756
580
4.8 %
RANDOM
Rwork
0.18809
-
-
-
obs
0.1899
11537
99.25 %
-
all
-
12118
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 21.615 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.26 Å2
0.26 Å2
0 Å2
2-
-
0.26 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.83 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.7→35.43 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
807
0
0
46
853
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.022
0.019
827
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
760
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
2.001
1.932
1113
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.997
3
1743
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.27
5
97
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
31.966
23.409
44
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.736
15
146
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
21.365
15
7
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.139
0.2
110
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.011
0.02
945
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
214
LS精密化 シェル
解像度: 1.7→1.747 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.308
50
-
Rwork
0.23
784
-
obs
-
-
96.42 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 3.2028 Å / Origin y: 12.9128 Å / Origin z: -6.1583 Å