ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 SHARP位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : AB INITIO PHASING / 解像度 : 3.49→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.912 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.906 / SU B : 86.677 / SU ML : 0.563 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.947 / ESU R Free : 0.508 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.33134 1231 5.1 % RANDOM Rwork 0.31413 - - - obs 0.31499 22889 99.1 % - all - 23000 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 194.93 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 8.15 Å2 4.08 Å2 0 Å2 2- - 8.15 Å2 0 Å2 3- - - -12.23 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 3.49→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4215 0 24 0 4239
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.02 4361 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.126 1.96 5941 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg12.591 5 548 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.011 21.788 151 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg26.187 15 658 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg21.639 15 20 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.155 0.2 670 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.012 0.021 3252 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 3.493→3.581 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.45 74 - Rwork 0.482 1330 - obs - - 89.48 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.2512 0.5544 1.5708 0.3926 1.0635 3.5501 -0.0464 0.432 -0.0844 -0.0006 -0.0054 0.0198 -0.1778 0.2878 0.0517 0.0513 -0.11 -0.0248 0.5153 -0.0151 0.3006 7.8419 -49.507 27.0258 2 1.1824 -0.9421 -2.1538 3.5069 -0.4667 5.6857 -0.07 -0.4322 -0.1034 -0.0196 0.2044 0.2779 0.024 0.8723 -0.1344 0.0347 0.1125 -0.0286 0.5236 -0.0916 0.3229 -32.1993 -60.3044 8.666
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A5 - 463 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 91