プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→46.89 Å / Num. all: 36561 / Num. obs: 36561 / % possible obs: 99.94 % / 冗長度: 9.3 % / Biso Wilson estimate: 33.8 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.071 / Rsym value: 0.099 / Net I/σ(I): 26.12
反射 シェル
解像度: 2.1→2.18 Å / 冗長度: 7.2 % / Rmerge(I) obs: 0.574 / Mean I/σ(I) obs: 2.97 / Num. unique all: 3785 / Rsym value: 0.591 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHASER
位相決定
REFMAC
5.6.0111
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.1→46.89 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.955 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.945 / SU B: 3.14 / SU ML: 0.084 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.128 / ESU R Free: 0.124 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.21243
1925
5 %
RANDOM
Rwork
0.18303
-
-
-
all
0.18449
36561
-
-
obs
0.18449
36561
99.94 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK