ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345dtbデータ収集 ARP/wARPモデル構築 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 3TCA解像度 : 2.403→37.96 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.924 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.894 / SU B : 19.118 / SU ML : 0.225 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.489 / ESU R Free : 0.3 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.28254 1285 5 % RANDOM Rwork 0.23991 - - - obs 0.2421 24426 95.57 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 50.181 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.02 Å2 0 Å2 -0.03 Å2 2- - -0.02 Å2 0 Å2 3- - - 0.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.403→37.96 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4345 0 0 101 4446
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.02 4441 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.151 1.962 5977 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.79 5 523 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg39.194 24.455 220 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg17.352 15 883 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg19.774 15 28 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.081 0.2 648 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 3284 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.403→2.465 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.41 79 - Rwork 0.292 1478 - obs - - 80.22 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.7261 -1.0114 1.9619 5.7399 -0.8034 2.434 0.0213 -0.0031 0.0763 -0.0613 -0.1442 -0.064 0.0144 -0.0367 0.1229 0.1578 -0.0253 0.124 0.2641 0.0016 0.1056 36.3445 -2.5588 1.3905 2 2.641 -0.976 1.6406 4.0162 -0.7694 2.2917 -0.0951 0.0645 0.1212 -0.0366 0.0046 -0.011 -0.0943 0.0099 0.0905 0.0722 -0.02 0.0717 0.1664 -0.0264 0.0966 62.6992 -64.3721 24.1456
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A252 - 520 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B252 - 520