ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CBASSデータ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 XDSデータ削減 XSCALEデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1NZA解像度 : 2→50 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.945 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.909 / SU B : 8.76 / SU ML : 0.124 / Isotropic thermal model : ISOTROPIC, TLS / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.207 / ESU R Free : 0.18 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.247 1153 5.1 % RANDOM Rwork 0.198 - - - all 0.2 22608 - - obs 0.2 22552 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 22.95 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.25 Å2 0 Å2 -0.04 Å2 2- - -0.71 Å2 0 Å2 3- - - 0.94 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→50 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2540 0 3 191 2734
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.02 2602 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.006 0.02 1667 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.568 1.962 3549 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.432 3 4152 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.743 5 326 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.932 26.075 107 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.877 15 480 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg12.489 15 6 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.093 0.2 444 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.02 2809 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.005 0.02 457 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2→2.05 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.255 75 - Rwork 0.23 1521 - obs - 1660 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.6952 0.2414 0.0237 1.3489 -0.262 0.5404 0.025 0.0496 -0.0456 0.0839 -0.0368 -0.0737 0.0151 0.1054 0.0119 0.0771 0.0091 -0.0495 0.0243 -0.0079 0.0716 35.705 9.11 15.227 2 1.1806 -0.181 -0.0734 0.9324 0.4776 0.3939 -0.0481 0.0191 -0.0726 0.09 0.0166 0.0926 0.0879 -0.0423 0.0314 0.1019 -0.0016 -0.0342 0.0202 0.0047 0.1001 17.135 4.645 16.041 3 1.4237 -0.0323 0.1806 0.7129 -0.1011 0.485 -0.0115 -0.0134 0.137 0.0046 -0.0112 0.0332 -0.1026 -0.0271 0.0227 0.0725 0.0048 -0.0264 0.0046 -0.0001 0.0791 23.785 22.64 16.663
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A6 - 115 2 X-RAY DIFFRACTION 1 A201 3 X-RAY DIFFRACTION 1 A301 - 303 4 X-RAY DIFFRACTION 2 B10 - 115 5 X-RAY DIFFRACTION 2 B201 6 X-RAY DIFFRACTION 2 B301 - 303 7 X-RAY DIFFRACTION 3 C12 - 116 8 X-RAY DIFFRACTION 3 C201 9 X-RAY DIFFRACTION 3 C301 - 303