モノクロメーター: YALE MIRRORS / プロトコル: SAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97926 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.5→39.49 Å / Num. obs: 104647 / % possible obs: 92.2 % / Observed criterion σ(I): 3.56
反射 シェル
解像度: 1.5→1.54 Å / Num. unique all: 7813 / % possible all: 92.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDS
データスケーリング
SHELXS
位相決定
REFMAC
5.6.0117
精密化
XSCALE
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.5→39.49 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.97 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.966 / SU B: 2.993 / SU ML: 0.056 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(I): 3.56 / ESU R: 0.079 / ESU R Free: 0.08 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20854
1616
3 %
RANDOM
Rwork
0.1791
-
-
-
all
0.1796
53849
-
-
obs
0.18002
52232
94.92 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK