モノクロメーター: BENT SI (111) CRYSTAL, HORIZONTALLY FOCUSING OPTICS MULTILAYER MIRROR, CURVED TO FOCUS IN THE VERTICAL プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.04 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.95→28.77 Å / Num. obs: 30022 / % possible obs: 99.8 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 7.3 % / Biso Wilson estimate: 33.02 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 25
反射 シェル
解像度: 1.95→2 Å / 冗長度: 6.3 % / Rmerge(I) obs: 0.87 / Mean I/σ(I) obs: 3.5 / % possible all: 96
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: MODEL OBTAINED FROM K2PTCL4 DERIVATIVE CRYSTAL DATA 解像度: 1.95→28.769 Å / SU ML: 0.27 / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 19.82 / 立体化学のターゲット値: ML
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2062
1502
5 %
Rwork
0.1688
-
-
obs
0.1707
30022
99.77 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.86 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 69.848 Å2 / ksol: 0.4 e/Å3